供应商：上海韵鼎国际贸易有限公司

仪器用途简介：汽车钢板上的防锈油、滚轧润滑油等涂油量的测量耐指纹、润滑性钢板等有机油膜厚度的测量铝罐（易拉罐内壁）等有机膜涂布量的测量彩色钢板的底漆厚度及背面涂布量的测量其他金属上有机膜涂布量的测量技术参数：测量方法:红外反射吸收方式(旋转过滤器方式)测量范围:0.1～10μm反复再现性:0.01μm以下测量面积:518×36mm(椭圆)尺寸?重量:100(W)×210(D)×145(H)、约1.5kg主要特点：三点定位，独特光源，精确精确再精确。本产品深得钢铁业、铝业客户厚爱。如果把红外线照射到被测物上

供应商：优尼康科技有限公司

Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，F40是**的选择。

供应商：优尼康科技有限公司

以真空镀膜为设计目标，F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分，用户就能进行zuidi/zui高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。 可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。

供应商：优尼康科技有限公司

Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。

供应商：优尼康科技有限公司

F10-HC现在能够执行自动化基准矫正以及设置自己的积分时间这个创新的方法不需要频繁的执行基准矫正就可以让使用者立即的执行样本的测量 。

供应商：优尼康科技有限公司

不论您是想要知道薄膜厚度、光学常熟，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。

供应商：雷迪美特中国有限公司

NanoCalc 薄膜反射测量系统薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250μm的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚。产品特点可分析单层或多层薄膜分辨率达0.1nm适合于在线监测操作理论最常用的两种测量薄膜的特性的方法为光学反射和投射测量、椭圆光度法测量。NanoCalc利用反射原理进行膜厚测量。查找n和k值可以进行多达三层的薄膜测量，薄膜和基体测量可以是金属、电介质、无定形材料或硅晶等。NanoCalc

供应商：aep Technology中国办事处

薄膜测厚仪仪器简介：提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。膜厚仪主要特点：◆微观二维（2D）和三维(3D

供应商：北京华仪通泰环保科技有限公司

仪器详情德国BMT 932臭氧检测仪是一个咱家的先进的UV光子垢仪用于测量和监控的臭氧含量环境空气。德国BMT 932臭氧检测仪产品简介：?该臭氧检测仪BMT 932是一个咱家的先进的UV光子 垢仪用于测量和监控的臭氧含量 环境空气?该仪器可以订购1，3，或6个样品的渠道。 从通道切换到通道是自动或手动通过 按下按钮?洗涤器是任何光度的很重要的元素 臭氧监测。 该臭氧检测仪BMT 932有两个 正是臭氧选择性洗涤器：一种实用洗涤，并 1储备洗涤。 另外它有一个内置的臭氧 发电机，定期测试工具的能力 洗涤器

供应商：北京华仪通泰环保科技有限公司

仪器详情德国BMT 930臭氧检测仪是一个咱家的先进的UV 光度计测量和监测的臭氧含量环境空气，该仪器可以订购1，3，或6个样品的渠道。德国BMT 930臭氧检测仪产品简介：?该臭氧检测仪BMT 930是一个咱家的先进的UV 光度计测量和监测的臭氧含量 环境空气?该仪器可以订购1，3，或6个样品的渠道?从通道切换到通道是自动或手动通过 按下按钮?在BMT 930具有2洗涤器（洗气装置是一个 很重要的环境臭氧监测的元素）?它有一个内置的臭氧发生器，用于间歇的自动测试 该实用程序洗涤。当这种洗涤器完全失效 由

供应商：北京华仪通泰环保科技有限公司

仪器详情德国BMT 964 AQ-LC臭氧在洁净的水传感器是一个精的紫外光光度计直接测量的清晰和干净的水的臭氧含量无气泡。德国BMT 964 AQ-LC臭氧在洁净的水传感器产品简介：?臭氧在洁净的水传感器BMT 964 AQ-LC是一个精的紫外光光度计直接测量的清晰和干净的水的臭氧含量无气泡?明确表示：非常低浊度?清洁方法：对的QUARZ比色皿窗口内surfaces.Cleaning非常低的存款 - 如果需要的话 - 是很简单的?在用臭氧水接触的材料：不锈钢，聚四氟乙烯，石英和光度计AFLAS.Super

供应商：北京华仪通泰环保科技有限公司

仪器详情德国BMT 964 AQ高浓度臭氧在水中的传感器是UV光度计直接测量超纯水，去离子水的臭氧含量，该仪器是根据我们的臭氧分析仪BMT 964用于气态臭氧。德国BMT 964 AQ高浓度臭氧在水中的传感器产品简介：?臭氧在水中的传感器BMT 964 AQ是UV光度计直接测量超纯水，去离子水的臭氧含量?一个特殊版本BMT 964 AQ / HF达5％的氢氟酸，范围50 ppm时，可用?该仪器是根据我们的臭氧分析仪BMT 964用于气态臭氧?在BMT 964 AQ是一个传感器，因为它不具有显示器。 它

供应商：佰汇兴业（北京）科技有限公司

WLI LA 白光干涉仪德国BMT WLI LA 白光干涉仪比使用显微物镜的设备可测面积大得多，同时具有非常高的数值孔径。非常适于平整度测量。特点：● 表面轮廓和平整度测量；● 粗糙和光滑表面均可测量；● 测量不受颜色和材料影响；● 数秒内完成测量；● 测量范围大。技术参数：适用于较大面积平面的表面结构形状测量测量头● 光源 LED● 测量范围 （μm) 100/150● 垂直分辨率（nm） ≥1● 横向分辨率（μm） 30● 测量面积 （mm） 14×10● 工作距离 （mm) 24● 数码相机＜14位

供应商：佰汇兴业（北京）科技有限公司

德国BMT WLI Linik干涉仪 特点： 区域表面的形貌测量； 数秒内快速测量； 粗糙和光滑表面都可测量； 测量结果不受样品的颜色和材料影响； 产品坚固耐用。 技术参数：

供应商：佰汇兴业（北京）科技有限公司

WLIRing 测量系统用于快速准确测量圆柱形工件的表面形貌，计算粗糙度参数，微观结构，及外壁表面特征。WLI Ring 产品特点● 对内外壁都可进行测量；● 光滑粗糙表面都可进行测量；● 测量结果不受工件的颜色和材料影响；● 数秒内快速测量；● 用于在线测量的OEM测量头。技术参数测量头光源： LED垂直分辨率（nm）： <1水平分辨率（μm）：≥1焦距，大约（mm)： 1测量区域的尺寸： 由物体决定图像尺寸（Pixel）： 1000&×1000

供应商：佰汇兴业（北京）科技有限公司

德国BMT WLI Lab 白光干涉仪德国BMT WLI Lab 白光干涉仪可准确快速测量表面轮廓、粗糙度参数、台阶高度及其他各种表面参数，具有稳定性高，设计坚固和易于操作的特点。LED光源的应用使得在即使是很微弱的反射表面上也可进行测量。专为电子、汽车、工程工业、研究所而特别研发。主要用途： ........◆ 粗糙和光滑表面的显微测量◆ 产品凸凹结构图◆ 可根据特殊用途定制主要特点：◆粗糙和光滑表面的显微测量；◆数秒内快速测量；◆快速更换被测物；◆测量结果不受样品的颜色和材料影响；◆产品坚固耐用。技术

供应商：佰汇兴业（北京）科技有限公司

WLI Infra干涉仪德国BMT WLI Infra干涉仪是用于硅薄膜的厚度测量设备。仪器适用于实验室、车间和生产线上的质量管理。测量头提供的重复性，设计坚固紧凑、免维护，适用于在线测量。产品特点：MEMS、硅梁、透明薄材料的非接触高精度厚度测量；纳米级分辨率；手动或自动测量步骤设计，简单易用；不受温度变化和热效应的影响；的重复性；可配备表面轮廓测量。技术参数：厚度分辨率（nm） <1探针大小 （μm） 约150（可定制）厚度范围 （μm） 0.1-600仪器尺寸 （mm） 320x320x

供应商：aep Technology中国办事处

仪器简介：台阶仪该款台阶仪提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。台阶仪主要特点： ◆微观二维

供应商：aep Technology中国办事处

NanoMap-1000WLI 膜厚仪仪器简介：该膜厚仪提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。主要特点：

供应商：南京冉锐科技有限公司

白光干涉测量系统沿着垂直轴向捕获光强数据，通过白光干涉图的形状，局部相位或者两者结合确定表面位置 Vertical Resolution 垂直分辨率 0.1nm 0.1nm Turret 转轮 upto 6 objective turret (manual or automatic) 6镜头转轮（自动或手动） Scan Rang

供应商：南京冉锐科技有限公司

美国Rtec三维形貌仪测量系统沿着纵轴捕获一系列位置的光强数据。通过白光干涉图的形状，干涉图的局部相位或者是二者的结合来确定表面位置。本公司还有激光共焦，白光共焦，拉曼光谱仪等，可以把这些设备自由组合在一起，以实现客户的不同需求特点：快速直观的操作较高的计算程序，精确的高测量速度和简便的操作软件，使用户能够快速的分析和创建报告多个物镜带有6物镜转轮，包括多个物镜：长焦，短焦，不同数值孔径，投射镜头等电子器件先进的控制器，低机械噪声，自校准系统，可选波长，64位并行处理器，标准分辨率达到1

供应商：安柏来科学仪器（上海）有限公司

技术特点光学方法，非接触、无损测量，安全无辐射。快速膜厚分析，只需几毫秒即可获得测量结果膜厚测量范围 0.1- 150微米( 0.004 to 6 mil )极高的分析准确度，在整个厚度测量范围内偏差小于0.005微米可同时分析计算两层膜厚可同时支持实验室离线分析或者在线生产分析主要用于全球主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试。

供应商：安柏来科学仪器（上海）有限公司

产品描述TranSpecMicro新的光纤耦合TranSpecMicro薄膜厚度显微镜可以将薄膜厚度测量点的大小降到50-100um。测量点的图像可通过装在显微镜上的特殊彩色相机实时查看。TranSpecMicro薄膜厚度测量仪和我们TranSpec和TranSpecLite仪器一样采用白光干涉原理。为了测量非常小的点，TranSpecMicro使用装有实时显示相机的光纤耦合显微镜。光纤耦合纤维镜可以将薄膜厚度测量点的大小降到50-100um（根据放大倍数的不同），测量点的图像可通过装在显微镜上的特殊彩色

供应商：安柏来科学仪器（上海）有限公司

产品描述TranSpec光谱仪结合创新的光电技术与强大的模拟/数字电子技术和zuixin的计算机技术。借助于灵活的光纤，TranSpec的应用范围从标准的常规实验室分析到在线过程测量技术的特殊任务。使用FSMA标准光纤连接的高稳定性光电二级管阵列分光计使用spurious-free动态范围的1MHz16位模拟/数字转换器针对紫外线……近红外光谱范围可使用不同的分光计模块可选的集成卤素或氘/卤素结合光谱灯无可移动部分-无需重复校准-无需维护可连接到标准USB2.0（USB3.0）或选择连到以太网/局域网可用

供应商：安柏来科学仪器（上海）有限公司

等离子体发射测量在紫外线…近红外线范围可同时观察到等离子发射低压等离子沉积技术是一个客观的连续不断的过程，如PVD（物理气象沉积）是今天真正的问题之一。除了等离子体发射光的表观检查，有时也使用质谱技术。但是质谱技术既不方便操作，其结果也不容易理解。与此相比，使用OES（发射光谱）和光纤耦合TranSpec光谱仪的有点是显而易见的。技术特征在200…1000nm光谱范围内可同时测量可检测非常底的发射信号可连接到几乎每个真空室无需维护舒适和易于使用的PEMProVis专业版软件用于全球主要的汽车灯以及CD生产

供应商：北京三尼阳光科技发展有限公司

仪器简介： 1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，以它突出的表现得到了世界范围的认可。 技术参数： 活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) 测量范围 200~ 35(根据膜的类型) 光斑尺寸 20 典型值 测量速度 1

供应商：北京三尼阳光科技发展有限公司

仪器简介：1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，以它突出的表现得到了世界范围的认可。技术参数：波长范围 420nm ~ 640nm 厚度测量范围 350 ~ 3 最小光斑尺寸 1.35, 0.135 目标面积 864X648 / 86.4X64.8 物镜转动架 5X(spot size 20), 50X(spot size 0.2)

供应商：上海瞬渺光电技术有限公司

产品特点： ?非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。?高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率，k消光系数）。?宽阔的波长测量范围。（190nm-1100nm）?薄膜到厚膜的膜厚测量范围。（1nm~250μm）?对应显微镜下的微距测量口径。产品规格： 标准型厚膜专用型膜存测量范围1nm~40μm0.8μm~250μm波长测量范围190~1100n

供应商：上海瞬渺光电技术有限公司

产品特点：?椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。?0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。?400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。?可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。?非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格： 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm（可选择350～1000nm）感光元件光电二极管阵列512ch（电子制冷）入射/反射角度范围45～90o电源规格AC1500VA（全自动型)尺寸

供应商：上海瞬渺光电技术有限公司

产品特点：?400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。?自动变更反射测量角度，可得到更详细的薄膜解析数据。?采用正弦杆自动驱动方式，展现测量角度变更时优异的移动精度。?搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。?可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格： 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45～90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300～800nm分光

供应商：上海瞬渺光电技术有限公司

产品特点：?薄膜到厚膜的测量范围、UV～NIR光谱分析。?高性能的低价光学薄膜测量仪。?藉由反射率光谱分析膜厚。?完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。?无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手。?非线性最小平方法解析光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格： 型号FE-300VFE-300UVFE-300NIR对应膜厚标准型薄膜型厚膜型超厚膜型样品尺寸最大8寸晶圆（厚度5mm）膜厚范围100nm~40μm10nm~20μm3μm~30

供应商：上海瞬渺光电技术有限公司

产品特点：?自由搭配的光纤架构，可安装于生产线上、半导体晶圆研磨设备或真空镀膜设备中。?远端同步控制、高速多点同步测量等。?丰富多样的光学系统套件与应用软件，提供特殊环境下最理想的膜厚解决方案。产品架构： ?半导体晶圆面内分布测量?玻璃基板面内分布测量?即时性量测?输送方向的定点品质管理?对应真空环境之设备?即时性测量?输送方向的全面品质管理

供应商：上海瞬渺光电技术有限公司

产品特点：?光谱仪(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供丰富选配套件以及客制化光纤。?可依据安装现场需求评估设计。?可灵活架设于各种环境下的**即时测量系统。测量项目： 分光光谱仪种类测量波长范围MCPD-9800：高动态范围型360～1100nmMCPD-3700：紫外/可视/近红外光型220~1000nmMCPD-7700：高感度型220~1100nm平面显示器模组测量：平面显示器（FPD）模组、液晶显示器（LCD）模

供应商：北京三尼阳光科技发展有限公司

仪器简介： 1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，以它突出的表现得到了世界范围的认可。 技术参数： 活动范围 200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12") 测量范围 100~ 35(Depends on Film Type) 光斑尺寸 40/20, 4(option) 测量

供应商：北京三尼阳光科技发展有限公司

仪器简介： 1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，以它突出的表现得到了世界范围的认可。 技术参数： 活动范围 300mm x 300mm 测量范围 100~ 35(Depends on Film Type) 光斑尺寸 40/20,4(option) 测量速度 1~2 sec./site (fitting

供应商：北京三尼阳光科技发展有限公司

仪器简介：1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，以它突出的表现得到了世界范围的认可。技术参数：活动范围 ~300mm x 300mm 测量范围 100~ 35(Depends on Film Type) 光斑尺寸 40/20,4(option) 测量速度 1~2 sec./site(fitting time) 应用领域 All Capabili